商品名稱:PHI VersaProbe III 掃描XPS微探針
VersaProbe III的特點(diǎn):
◆ 新型低能反向光電子能譜(LEIPS);
◆ 新REELS(反射電子能量損失光譜學(xué));
◆ 新的分析儀輸入鏡頭,靈敏度高2-3倍,適用于所有分析條件;
◆ 新型多通道檢測器,可實現(xiàn)更快的元素和化學(xué)成像;
◆ 用于ADXPS測量的+/- 5度立體角收集的新角度相關(guān)技術(shù);
◆ 改進(jìn)的熱/冷階段提供-140°C至+ 600°C的溫度;
◆ 新型專用熱樣品壓板可在高達(dá)800°C的溫度下運(yùn)行;
◆ 新的 4觸點(diǎn)可轉(zhuǎn)移樣品支架,用于原位控制的潛在實驗;
◆ 新的 UPS設(shè)計可提高靈敏度并提高能量分辨率;
◆ 改進(jìn)俄歇性能,提供更高的能量分辨率和更好的信噪比。
化繁就簡 集成方案
售后無憂 服務(wù)周到
品類齊全 質(zhì)量優(yōu)先
專業(yè)選型 技術(shù)支持
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