商品名稱:TE 致冷CCD光譜儀
TE致冷CCD光譜儀
Glacier? X是高性能的TE致冷線陣CCD光譜儀。與非致冷的CCD光譜儀相比,Glacier? X可以提供更高的動態范圍,更顯著的降低光譜儀的噪聲,更優異的長期穩定性,更適合微光檢測和長時間連續監測等應用。它的最低檢測波長可達200nm,最高可達1050nm。根據不同的配置,光譜分辨率0.6-4.0nm可選。靈活的配置及完備的應用支持,使其成為眾多的微光檢測、長時間光譜檢測應用需求的理想選擇。
Glacier? X采用2048像元檢測器,內建16位數字轉換,高速USB2.0即插即用數據接口。
B&W Tek提供靈活的配置以滿足不同的光譜分析應用需求OEM客戶的特殊要求。
應用:
? 紫外可見近紅外 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析及應用
? 長積分檢測
? 吸光度測量
? 反射率測量
化繁就簡 集成方案
售后無憂 服務周到
品類齊全 質量優先
專業選型 技術支持
周一至周日8:00-18:00
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